SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

标准详情：

SJ/T 11766-2020

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法
CCS分类：L50
ICS分类：31.080.01
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
代替标准：
行业分类：
技术归口：基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
发布部门：工业和信息化部
标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合 SJ 电子

内容简介

行业标准《光电耦合器件低频噪声参数测试方法》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报，主管部门为工业和信息化部。
适用于光电耦合器件1 Hz～300 kHz 频率范围内噪声参数的测试

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等

起草人

余永涛、胡为、张伟等

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