SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法通用要求

标准详情：

SJ/T 11769-2020

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：电子元器件低频噪声参数测试方法通用要求
CCS分类：L04
ICS分类：31.02
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
代替标准：
行业分类：
技术归口：基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
发布部门：工业和信息化部
标准分类：电子学 SJ 电子

内容简介

行业标准《电子元器件低频噪声参数测试方法通用要求》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报，主管部门为工业和信息化部。
适用于电子元器件1 Hz～300 kHz 频率范围内的噪声参数测试

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、中国运载火箭技术研究院、西安电子科技大学等

起草人

罗宏伟、张伟、胡为等

相近标准

SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法
SJ/T 11768-2020 电阻器低频噪声参数测试方法
SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法
GB/T 4214.1-2017 家用和类似用途电器噪声测试方法通用要求
DL/T 315-2010 电力系统低频减负荷和低频解列装置通用技术条件
DB35/T 1696-2017 低频EOC 装置通用技术要求
20201440-T-604 分离机械噪声测试方法
20221075-T-607 家用和类似用途电器噪声测试方法干式清洁机器人的特殊要求

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错