标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
- GB/T 43061-2023半导体集成电路 PWM控制器测试方法
- 现行
2023-09-072024-04-01 - GB/T 43059-2023印制板及印制板组装件的平整度控制要求
- 现行
2023-09-072024-04-01 - GB/T 42972-2023微波电路 检波器测试方法
- 现行
2023-09-072024-01-01 - GB/T 42969-2023元器件位移损伤试验方法
- 现行
2023-09-072024-01-01 - GB/T 42970-2023半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
- 现行
2023-09-072024-01-01 - GB/T 42975-2023半导体集成电路 驱动器测试方法
- 现行
2023-09-072024-01-01 - GB/T 42973-2023半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器
- 现行
2023-09-072024-01-01 - GB/T 42974-2023半导体集成电路 快闪存储器(FLASH)
- 现行
2023-09-072024-01-01 - GB/T 12274.401-2023有质量评定的石英晶体振荡器 第4-1部分:空白详细规范 能力批准
- 现行
2023-08-062023-12-01 - GB/T 27700.1-2023有质量评定的声表面波滤波器 第1部分 :总规范
- 现行
2023-08-062023-12-01 - GB/T 42709.19-2023半导体器件 微电子机械器件 第19部分:电子罗盘
- 现行
2023-08-062024-03-01 - GB/T 42744-2023微波电路 电调衰减器测试方法
- 现行
2023-08-062024-03-01 - GB/T 42896-2023微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法
- 现行
2023-08-062023-12-01 - GB/T 42895-2023微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法
- 现行
2023-08-062023-12-01 - GB/T 42897-2023微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法
- 现行
2023-08-062023-12-01 - GB/T 42836-2023微波半导体集成电路 混频器
- 现行
2023-08-062023-12-01 - GB/T 42835-2023半导体集成电路 片上系统(SoC)
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2023-08-062023-12-01 - GB/T 42848-2023半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
- 现行
2023-08-062023-12-01 - GB/T 6346.14-2023电子设备用固定电容器 第14部分:分规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器
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2023-03-172023-10-01 - GB/T 42838-2023半导体集成电路 霍尔电路测试方法
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2023-08-062023-12-01