SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间

标准详情:

SJ/T 2658.11-2015

行业标准-SJ 电子推荐性
  • 中文名称:半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间
  • CCS分类:L53
    ICS分类:31.080
  • 发布日期:2015-10-10
    实施日期:2016-04-01
  • 代替标准:代替SJ/T 2658.11-1986
    行业分类:
  • 技术归口:工业和信息化部电子工业标准化研究院
    发布部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电子学半导体分立器件SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报,主管部门为工业和信息化部。
本部分规定了半导体红外发射二极管响应时间的测量原理图、测量步骤以及规定条件。

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人

张戈、赵英

相近标准

SJ/T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第15部分:热阻
SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
SJ/T 2658.14-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第14部分:结温
SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽
SJ/T 2658.16-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第16部分:光电转换效率
SJ/T 2658.10-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽
SJ/T 2658.2-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第2部分:正向电压
SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻
SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」