SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量

标准详情:

SJ/T 2658.7-2015

行业标准-SJ 电子推荐性
  • 中文名称:半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量
  • CCS分类:L53
    ICS分类:31.080
  • 发布日期:2015-10-10
    实施日期:2016-04-01
  • 代替标准:代替SJ/T 2658.7-1986
    行业分类:
  • 技术归口:工业和信息化部电子工业标准化研究院
    发布部门:工业和信息化部
  • 标准分类:SJ 电子电子学半导体分立器件

内容简介

行业标准《半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报,主管部门为工业和信息化部。
本部分规定了半导体红外发射二极管辐射通量的测量原理图、测量步骤以及规定条件。

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人

张戈、赵英

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