SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量
标准详情:
SJ/T 2658.7-2015
行业标准-SJ 电子推荐性现行
- 中文名称:半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量
- CCS分类:L53
- ICS分类:31.080
- 发布日期:2015-10-10
- 实施日期:2016-04-01
- 代替标准:代替SJ/T 2658.7-1986
- 行业分类:
- 技术归口:工业和信息化部电子工业标准化研究院
- 发布部门:工业和信息化部
- 标准分类:SJ 电子电子学半导体分立器件
内容简介
行业标准《半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报,主管部门为工业和信息化部。
本部分规定了半导体红外发射二极管辐射通量的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
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