SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南

标准详情：

SJ/T 11699-2018

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：IP核可测性设计指南
CCS分类：L55
ICS分类：31.2
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
代替标准：
行业分类：信息传输、软件和信息技术服务业
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
发布部门：工业和信息化部
标准分类：电子学信息传输、软件和信息技术服务业 SJ 电子

内容简介

行业标准《IP核可测性设计指南》由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。
本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构，对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。

起草单位

哈尔滨工业大学、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部软件与集成电路促进中心等

起草人

王永生、肖立伊、付方发等

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