SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法

标准详情：

SJ/T 11497-2015

行业标准-SJ 电子推荐性

中文名称：砷化镓晶片热稳定性的试验方法
CCS分类：H83
ICS分类：29.045
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
代替标准：
行业分类：
技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部
标准分类：电气工程半导体材料 SJ 电子

内容简介

行业标准《砷化镓晶片热稳定性的试验方法》由全国半导体设备和材料标准化技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。
本标准规定了半绝缘砷化镓(GaAs)热稳定性的试验方法。本标准适用于电阻率在10∧4Ω·cm～10∧9Ω·cm范围半绝缘砷化镓单晶材料的热稳定性试验。

起草单位

信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司等

起草人

何秀坤、董彦辉、刘兵等

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