标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
- GB/T 12965-1996硅单晶切割片和研磨片
- 废止
1996-11-041997-04-01 - GB/T 16595-1996晶片通用网格规范
- 废止
1996-11-041997-04-01 - GB/T 16596-1996确定晶片坐标系规范
- 废止
1996-11-041997-04-01 - GB/T 20230-2022磷化铟单晶
- 现行
2022-03-092022-10-01 - GB/T 20229-2022磷化镓单晶
- 现行
2022-03-092022-10-01 - GB/T 26069-2022硅单晶退火片
- 现行
2022-03-092022-10-01 - GB/T 41325-2022集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片
- 现行
2022-03-092022-10-01 - GB/T 20228-2021砷化镓单晶
- 现行
2021-05-212021-12-01 - GB/T 11094-2020水平法砷化镓单晶及切割片
- 现行
2020-09-292021-08-01 - GB/T 30652-2014硅外延用三氯氢硅
- 现行
2014-12-312015-09-01 - GB/T 32651-2016采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
- 现行
2016-04-252016-11-01 - GB/T 34479-2017硅片字母数字标志规范
- 现行
2017-10-142018-07-01 - GB/T 25074-2017太阳能级多晶硅
- 现行
2017-11-012018-05-01 - GB/T 2881-2014工业硅
- 现行
2014-12-052015-08-01 - GB/T 13389-2014掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
- 现行
2014-12-312015-09-01 - GB/T 31476-2015电子装联高质量内部互连用焊料
- 现行
2015-05-152016-01-01 - GB/T 30866-2014碳化硅单晶片直径测试方法
- 现行
2014-07-242015-02-01 - GB/T 30858-2014蓝宝石单晶衬底抛光片
- 现行
2014-07-242015-04-01 - GB/T 29507-2013硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
- 现行
2013-05-092014-02-01 - GB/T 26067-2010硅片切口尺寸测试方法
- 现行
2011-01-102011-10-01