标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
- GB/T 38341-2019微机电系统(MEMS)技术 MEMS器件的可靠性综合环境试验方法
- 现行
2019-12-312020-04-01 - GB/T 38447-2020微机电系统(MEMS)技术 MEMS结构共振疲劳试验方法
- 现行
2020-03-062020-07-01 - GB/T 38446-2020微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法
- 现行
2020-03-062020-10-01 - GB/T 16527-1996硬面感光板中光致抗蚀剂和电子束抗蚀剂规范
- 现行
1996-09-091997-05-01 - GB/T 16526-1996封装引线间电容和引线负载电容测试方法
- 现行
1996-09-091997-05-01 - GB/T 16524-1996光掩模对准标记规范
- 现行
1996-09-091997-05-01 - GB/T 16466-1996膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)
- 现行
1996-07-091997-01-01 - GB/T 16465-1996膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)
- 现行
1996-07-091997-01-01 - GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第1部分:总则
- 现行
1996-07-091997-01-01 - GB/T 8976-1996膜集成电路和混合膜集成电路总规范
- 现行
1996-07-091997-01-01 - GB/T 6798-1996半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
- 现行
1996-07-091997-01-01 - GB/T 16878-1997用于集成电路制造技术的检测图形单元规范
- 现行
1997-06-201998-03-01 - GB/T 16523-1996圆形石英玻璃光掩模基板规范
- 现行
1996-09-091997-05-01 - GB/T 17024-1997半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范
- 现行
1997-10-071998-09-01 - GB/T 17023-1997半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范
- 现行
1997-10-071998-09-01 - GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
- 现行
1998-11-171999-06-01 - GB/T 17572-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路 4000B和4000UB系列族规范
- 现行
1998-11-171999-06-01 - GB/T 9424-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
- 现行
1998-11-171999-06-01 - GB/T 17866-1999掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
- 现行
1999-09-132000-06-01 - GB/T 17865-1999焦深与最佳聚焦的测量规范
- 现行
1999-09-132000-06-01