标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
- GB/T 35086-2018MEMS电场传感器通用技术条件
- 现行
2018-05-142018-12-01 - GB/T 36479-2018集成电路 焊柱阵列试验方法
- 现行
2018-06-072019-01-01 - GB/T 36477-2018半导体集成电路 快闪存储器测试方法
- 现行
2018-06-072019-01-01 - GB/T 36474-2018半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
- 现行
2018-06-072019-01-01 - GB/T 34900-2017微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法
- 现行
2017-11-012018-05-01 - GB/T 34899-2017微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
- 现行
2017-11-012018-05-01 - GB/T 34898-2017微机电系统(MEMS)技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法
- 现行
2017-11-012018-05-01 - GB/T 34894-2017微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
- 现行
2017-11-012018-05-01 - GB/T 34893-2017微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法
- 现行
2017-11-012018-05-01 - GB/T 32814-2016硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
- 现行
2016-08-292017-03-01 - GB/T 32815-2016硅基MEMS制造技术 体硅压阻加工工艺规范
- 现行
2016-08-292017-03-01 - GB/T 32816-2016硅基MEMS制造技术 以深刻蚀与键合为核心的工艺集成规范
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2016-08-292017-03-01 - GB/T 17940-2000半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
- 现行
2000-01-032000-07-01 - GB/T 19403.1-2003半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
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2003-11-242004-08-01 - GB/T 14112-2015半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范
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2015-05-152016-01-01 - GB/T 20296-2012集成电路记忆法与符号
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2012-12-312013-07-01 - GB/T 15876-2015半导体集成电路 塑料四面引线扁平封装引线框架规范
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2015-05-152016-01-01 - GB/T 26111-2010微机电系统(MEMS)技术 术语
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2011-01-102011-10-01 - GB/T 17574.9-2006半导体器件 集成电路 第2-9部分:数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
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2006-12-052007-05-01 - GB/T 16525-2015半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范
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2015-05-152016-01-01