标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
- GB/T 17574.10-2003半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范
- 现行
2003-11-242004-08-01 - GB/T 15878-2015半导体集成电路 小外形封装引线框架规范
- 现行
2015-05-152016-01-01 - GB/T 12750-2006半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)
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2006-08-232007-02-01 - GB/T 18500.1-2001半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范
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2001-11-052002-06-01 - GB/T 18500.2-2001半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
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2001-11-052002-06-01 - GB/T 20515-2006半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路
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2006-10-102007-02-01 - GB/T 26112-2010微机电系统(MEMS)技术 微机械量评定总则
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2011-01-102011-10-01 - GB/T 28275-2012硅基MEMS制造技术 氢氧化钾腐蚀工艺规范
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2012-05-112012-12-01 - GB/T 26113-2010微机电系统(MEMS)技术 微几何量评定总则
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2011-01-102011-10-01 - GB/T 17574.20-2006半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范
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2006-12-052007-05-01 - GB/T 17574.11-2006半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范
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2006-12-052007-05-01 - GB/T 5965-2000半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范
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2000-01-032000-07-01 - GB/T 19248-2003封装引线电阻测试方法
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2003-07-022003-10-01 - GB/T 28274-2012硅基MEMS制造技术 版图设计基本规则
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2012-05-112012-12-01 - GB/T 28277-2012硅基MEMS制造技术 微键合区剪切和拉压强度检测方法
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2012-05-112012-12-01 - GB/T 33657-2017纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
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2017-05-122017-12-01 - GB/T 33922-2017MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
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2017-07-122018-02-01 - GB/T 33929-2017MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
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2017-07-122018-02-01 - GB/T 28276-2012硅基MEMS制造技术 体硅溶片工艺规范
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2012-05-112012-12-01