标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
- GB/T 19346-2003非晶纳米晶软磁合金交流磁性能测试方法
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2003-11-032004-05-01 - GB/T 19289-2003电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法
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2003-09-122004-04-01 - GB/T 3655-2000用爱泼斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的方法
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2000-10-252001-09-01 - GB/T 7999-2000铝及铝合金光电(测光法)发射光谱分析方法
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2000-08-282000-12-01 - GB/T 18036-2000铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法
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2000-04-032000-09-01 - GB/T 4339-1999金属材料热膨胀特征参数的测定
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1999-11-012000-08-01 - GB/T 17473.5-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
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1998-08-191999-03-01 - GB/T 17473.7-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验
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1998-08-191999-03-01 - GB/T 17473.3-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
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1998-08-191999-03-01 - GB/T 17473.4-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
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1998-08-191999-03-01 - GB/T 17473.2-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
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1998-08-191999-03-01 - GB/T 17473.6-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
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1998-08-191999-03-01 - GB/T 17473.1-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
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1998-08-191999-03-01 - GB/T 1553-1997硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
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1997-06-031997-12-01 - GB/T 1550-1997非本征半导体材料导电类型测试方法
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1997-06-031997-12-01 - GB/T 16481-1996稀土元素微波等离子体炬发射光谱(MPT-AES)标准谱表
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1996-07-091997-01-01 - GB/T 15615-1995硅片抗弯强度测试方法
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1995-07-121996-02-01 - GB/T 14140.1-1993硅片直径测量方法 光学投影法
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1993-02-061993-10-01 - GB/T 14140.2-1993硅片直径测量方法 千分尺法
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1993-02-061993-10-01 - GB/T 4067-1999金属材料电阻温度特征参数的测定
- 现行
1999-11-012000-08-01